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小刻度有0.01和0.001兩種。 測量厚度可達50mm 部分量表采用陶瓷測頭，與工作接觸面為陶瓷，可延長使用壽命。另外，還有FE（材質(zhì)為加硬SK4）和AT（材質(zhì)為特殊鍍層）可供選擇 厚度計測厚儀厚度測量日本TECLOCK原裝

SM-112D日本TECLOCK厚度表測厚儀原裝 品牌：日本TECLOCK得樂 型號：SM-112D 最小刻度：0.01mm 測量范圍：10mm 指示誤差(mm)：±15um 平行度：5um 表盤刻度：0-50-100 測量力：2.5以下 測頭形狀：Φ10平型 測砧形狀：Φ10平型

SM-112AT日本TECLOCK厚度表測厚儀原裝 品牌：日本TECLOCK得樂 型號：SM-112AT 最小刻度：0.01mm 測量范圍：10mm 指示誤差(mm)：±15um 平行度：5um 表盤刻度：0-50-100 測量力：0.8以下 測頭形狀：Φ10平型 測砧形狀：Φ10平型

SM-112FE日本TECLOCK厚度表測厚儀原裝 品牌：日本TECLOCK得樂 型號：SM-112FE 最小刻度：0.01mm 測量范圍：10mm 指示誤差(mm)：±15um 平行度：5um 表盤刻度：0-50-100 測量力：2.5以下 測頭形狀：Φ10平型 測砧形狀：Φ10平型

SM-112P日本TECLOCK厚度表測厚儀原裝 品牌：日本TECLOCK得樂 型號：SM-112P 最小刻度：0.01mm 測量范圍：10mm 指示誤差(mm)：±15um 平行度：5um 表盤刻度：0-0.5-1 測量力：2.5以下 測頭形狀：Φ10平型 測砧形狀：Φ10平型

SM-112日本TECLOCK厚度表測厚儀原裝 型號：SM-112 最小刻度：0.01mm 測量范圍：10mm 指示誤差(mm)：±15um 平行度：5um 表盤刻度：0-50-100 測量力：2.5以下 測頭形狀：Φ10平型 測砧形狀：Φ10平型

TPM-617 日本TECLCOK得樂管道壁厚厚度測量儀 型號：TPM-617 品牌：日本TECLOCK 測量范圍：0-10mm 下測頭：1.6mm

0.001mm測厚規(guī)厚度測量儀日本TECLCOK得樂 型號：SM-1201L 最小刻度：0.001mm 測量范圍：1(3)mm 精度：±3um 平面度：3um 表盤刻度：0-100-200 測量力：1.5 or less 上測頭：φ 10陶瓷平測頭 下測頭：φ 10陶瓷平測頭g 重量：420g

SM-114LW 表盤式鏡片厚度測量儀日本TECLCOK得樂 型號：SM-114LW 測量范圍：0?10mm 最小刻度：0.01mm 測頭：上、下均為3.2mm球形測頭 主要用于測量鏡片凹凸處的最大厚度

SM-114LS 最小厚度測量測厚儀陶瓷測頭日本TECLOCK 型號：SM-114LS 測量范圍：0?10mm 最小刻度：0.01mm 測頭：上測頭：3.2mm球形鋼質(zhì)；下測頭：10mm平形陶瓷

SM-112LS 最小厚度測量測厚儀陶瓷測頭日本TECLOCK 型號：SM-112LS 測量范圍：0?10mm 最小刻度：0.01mm 測頭：上測頭：3.2mm球形鋼質(zhì)；下測頭：10mm平形陶瓷

SM-112-80g 厚度計測厚儀10mm陶瓷測頭日本TECLOCK原裝 型號：SM-112-80g 測量范圍：0?10mm 最小刻度：0.01mm 測頭：上、下10mm陶瓷圓柱測頭 測量力：0.8N以下

SM-112-3A 厚度計測厚儀5mm鋼測頭日本TECLOCK原裝 型號：SM-112-3A 測量范圍：0?10mm 最小刻度：0.01mm 測頭：上、下5mm鋼圓柱測頭

小刻度有0.01和0.001mm。 數(shù)字顯示，讀數(shù)簡單 應(yīng)用廣泛，可測量紙張、頭發(fā)、橡膠板、金屬管、珍珠等的厚度。 日本TECLCOK得樂 數(shù)顯式厚度表厚度測量儀

小刻度有0.01和0.001mm。 數(shù)字顯示，讀數(shù)簡單 應(yīng)用廣泛，可測量紙張、頭發(fā)、橡膠板、金屬管、珍珠等的厚度。 日本TECLCOK得樂 數(shù)顯式厚度測量儀

厚度測量，用于測量橡膠、熱可塑性彈性體、塑料薄膜，布料、紡織品等 PG和PF系列符合這些標準的數(shù)顯厚度測量儀 PF系列厚度測量儀厚薄表日本TECLOCK